一、報告題目:
In-situ electron microscopy for probing structure and property dynamics in materials
(原位電子顯微術(shù)應(yīng)用于材料結(jié)構(gòu)與動態(tài)性能分析)
二、報告人: Prof. Chaoying Ni(倪超英), 美國特拉華大學(xué)(University of Delaware)
三、報告時間:3.26(周一)上午10:00點
四、報告地點:東區(qū)研究生樓報告廳(220室)
倪超英教授簡介:
1997年獲美國特拉華大學(xué)材料科學(xué)博士,物理系博士后,1997-2001歷任巴塔公司(Batta Labs)、羅德爾公司(Rodel, 現(xiàn)Dow Chemical) 實驗室主管及研究科學(xué)家等職。2001年回到特拉華大學(xué),現(xiàn)為美國特拉華大學(xué)材料科學(xué)與工程系終身教授,W. M. Keck先進顯微技術(shù)及分析中心主任,同時也是常州大學(xué)兼職教授。主要研究領(lǐng)域: 現(xiàn)代電子顯微技術(shù)在材料與化學(xué)科學(xué)中的應(yīng)用、納米催化材料、先進復(fù)合材料、太陽能及熱電轉(zhuǎn)換等。